Dylid rhoi sylw i nodweddion deunyddiau mewn ymchwil microsgopig
(1) Aml-raddfa o ficrostrwythur deunydd: Microsgop Olympus lefel atomig a moleciwlaidd, lefel diffyg grisial megis dadleoliad, lefel microstrwythur grawn, lefel mesostructure, lefel macrostrwythur, ac ati;
(2) Anhomogeneity microstrwythur materol: yn aml mae gan y microstrwythur gwirioneddol anhomogeneity mewn geometreg, anhomogeneity mewn cyfansoddiad cemegol, ac anhomogeneity mewn priodweddau microsgopig (megis microhardness, potensial electrocemegol lleol) rhyw, ac ati;
(3) Cyfeiriadedd microstrwythur y deunydd: gan gynnwys anisotropi y siâp grawn, cyfeiriadedd y strwythur chwyddo isel, y cyfeiriadedd crisialog, cyfeiriadedd priodweddau macrosgopig y deunydd, ac ati, y dylid eu dadansoddi a'u dadansoddi ar wahân. cynrychiolaeth;
(4) Amrywioldeb microstrwythur deunyddiau: gall newidiadau mewn cyfansoddiad cemegol, ffactorau allanol a newidiadau amser sy'n achosi trawsnewidiadau cyfnod ac esblygiad microstrwythur arwain at newidiadau ym microstrwythur deunyddiau. Yn ogystal â dadansoddiad meintiol, dylid rhoi sylw i p'un a oes angen astudio'r broses bontio cyfnod cyflwr solet, cineteg esblygiad microstrwythur a mecanwaith esblygiad;
(5) Nodweddion ffractal posibl y microstrwythur deunydd a'r nodweddion sy'n dibynnu ar gydraniad a all fodoli mewn arsylwadau metallograffig penodol: gall achosi i ganlyniadau dadansoddiad meintiol y microstrwythur ddibynnu'n gryf ar gydraniad y ddelwedd. Dylid rhoi mwy o sylw i hyn wrth gynnal dadansoddiad meintiol o forffoleg meinwe a storio a phrosesu ffeiliau delwedd ddigidol microstrwythur;
(6) Cyfyngiadau ymchwil an feintiol ar ficrostrwythur deunyddiau: Er y gall yr ymchwil ansoddol ar y microstrwythur ddiwallu anghenion peirianneg deunyddiau, mae angen i ddadansoddiad ac ymchwil gwyddoniaeth deunyddiau bob amser feintioli geometreg y microstrwythur. Dadansoddiad o benderfyniadau a gwallau o'r canlyniadau dadansoddi meintiol a gafwyd (camgymeriad ar hap, gwall systematig, gwall gros);
(7) Cyfyngiadau microstrwythur materol trawstoriad neu arsylwi rhagamcaniad, ac ati Mae arsylwadau o erydiad dwfn o strwythur tri dimensiwn graffit fflawiau haearn bwrw a pearlit wedi dangos y gall cyfyngiadau o'r fath arwain yn hawdd at gamddehongli delweddau trawsdoriadol neu ragamcanol .
Dylid nodi bod yn rhaid defnyddio gwahanol egwyddorion a chysylltiadau stereolegol ar gyfer delweddau trawsdoriadol (fel metelograffeg optegol a delweddau SEM) a delweddau taflunio (fel delweddau TEM), ac mae'n llawer anoddach dadansoddi delweddau taflunio ystrydebol[2] ].
Ar gyfer cyfyngiadau (6) a (7), ysgythru dwfn, gwahaniad grawn neu ail gam, radiograffeg, gweledigaeth stereo, microsgopeg confocal, microsgopeg grym atomig, microsgopeg ïon maes, micro-CT a thechnolegau cysylltiedig, Ail-greu meinwe tri dimensiwn strwythur o gyfres o ddelweddau trawstoriadol a dulliau eraill wedi'u defnyddio ar gyfer delweddu uniongyrchol ac arsylwi arbrofol o dri dimensiwn microstrwythur deunyddiau. Ond dim ond ar gyfer achosion arbennig iawn y mae'r rhan fwyaf ohonynt yn addas, neu mae'r llwyth gwaith yn enfawr, neu dim ond delwedd ac arsylwi arwyneb y sampl y gallant ei wneud. Yn eu plith, mae'r dechnoleg micro-CT diwydiannol yn effeithiol iawn ar gyfer profi annistrywiol diffygion mawr gyda gwahaniaethau dwysedd amlwg y tu mewn i'r deunydd, a gall ddod yn gyfeiriad ymchwil a datblygu newydd, ond y penderfyniad ar gyfer arsylwi ar y microstrwythur. o ddeunyddiau ar ôl i'w gweld. Wedi cynyddu (ar hyn o bryd mae ei gydraniad uchaf ar lefel micron). Pan fydd yn bosibl cael cyfres o ddelweddau metallograffig trawsdoriadol yn arbrofol, mae technegau ail-greu 3D ac efelychu cyfrifiadurol yn ddefnyddiol iawn ar gyfer arsylwi uniongyrchol 3D. Hefyd, nid yw arsylwi uniongyrchol bob amser yn golygu mesuriad uniongyrchol. Mae'n werth nodi: yn yr achos lle na ellir gwireddu delweddu tri dimensiwn trefniadaeth ddeunydd neu na ellir cael ei ddata nodweddu meintiol er ei fod wedi'i ddelweddu, gall dadansoddiad stereolegol gael mesuriad meintiol diduedd o strwythur meinwe tri dimensiwn yn cost fach. Felly, mae wedi dod yn arf anhepgor ar gyfer dadansoddi meintiol a nodweddu microstrwythur sy'n deilwng o hyrwyddo.
Ymddangosiad a gwelliant parhaus dulliau newydd ar gyfer caffael, storio a throsglwyddo delweddau o ficrostrwythur deunyddiau, yn ogystal â gwell dulliau prosesu a dadansoddi delweddau, datblygiad parhaus a phoblogeiddio egwyddorion stereoleg a thechnegau arbrofol, a datblygiad cyflym caledwedd cyfrifiadurol a galluoedd meddalwedd Mae'r ddau yn rhoi cyfle prin ar gyfer datblygu a chymhwyso morffoleg microstrwythur materol o nodweddu ansoddol i nodweddu meintiol, o arsylwi dau ddimensiwn i brofi gwybodaeth siâp geometrig tri dimensiwn. Mae'r lefel uchel o awtomeiddio dulliau arbrofol a chaffael llawer iawn o ddata meintiol microstrwythur yn hawdd hefyd wedi arwain at fwy o bosibiliadau ar gyfer camddefnyddio rhai dulliau arbrofol dadansoddi delwedd uwch neu eu defnyddio'n ddiangen, na ellir ond eu gwerthfawrogi'n fawr.
