Cyflwyniad byr o nodweddion microsgop sganio
Mae sganio microsgop stiliwr (SPM) yn derm cyffredinol ar gyfer sganio microsgop twnelu ac amrywiol ficrosgopau stiliwr newydd a ddatblygwyd ar sail sganio microsgop twnelu (megis microsgopeg grym atomig (AFM), microsgopeg grym laser (LFM), microsgopi grym magnetig (MFM).). Mae'n offeryn dadansoddi arwyneb a ddatblygwyd yn rhyngwladol yn ystod y blynyddoedd diwethaf. Mae'n gynnyrch uwch-dechnoleg sy'n integreiddio golau, peiriant a thrydan trwy gymhwyso cyflawniadau gwyddonol a thechnolegol modern yn gynhwysfawr fel technoleg optoelectroneg, technoleg laser, technoleg canfod signalau gwan, dylunio a phrosesu mecanyddol manwl, technoleg rheoli awtomatig, technoleg prosesu signal digidol, technoleg optegol gymhwysol, caffaeliad cyfrifiadurol a rheolaeth uchel. Mae gan y math newydd hwn o offeryn microsgopig fanteision sylweddol o'i gymharu â microsgopau blaenorol ac offerynnau dadansoddol:
1. Mae gan SPM gydraniad uchel iawn. Gall 'weld' atomau yn hawdd, sy'n anodd i ficrosgopau cyffredin neu hyd yn oed ficrosgopau electron eu cyflawni.
2. Mae SPM yn cael delweddau cydraniad uchel amser real o arwyneb y sampl sy'n dangos yr atomau yn wirioneddol. Yn wahanol i rai offerynnau dadansoddol sy'n cyfrifo strwythur arwyneb sampl trwy ddulliau anuniongyrchol neu gyfrifiadol.
3. Mae amgylchedd defnyddio SPM yn hamddenol. Mae gan ficrosgopau electron ac offerynnau eraill ofynion llym ar gyfer yr amgylchedd gwaith, a rhaid gosod samplau o dan amodau gwactod uchel i'w profi. Gall SPM weithio mewn gwactod, yn ogystal ag yn yr atmosffer, tymheredd isel, tymheredd yr ystafell, tymheredd uchel, a hyd yn oed mewn toddiannau. Felly, mae SPM yn addas ar gyfer arbrofion gwyddonol mewn amrywiol amgylcheddau gwaith.
