Cyflwyniad byr o ficrosgop electron trawsyrru
cyflwyniad byr
Mae egwyddor delweddu microsgop electron a microsgop optegol yr un peth yn y bôn, ond y gwahaniaeth yw bod y cyntaf yn defnyddio pelydr electron fel ffynhonnell golau a maes electromagnetig fel lens. Yn ogystal, oherwydd bod treiddiad pelydr electron yn wan iawn, rhaid gwneud y sbesimen a ddefnyddir ar gyfer microsgop electron yn adrannau tenau iawn gyda thrwch o tua 50nm. Mae angen gwneud y math hwn o dafell gyda ultramicrotome. Gall chwyddo microsgop electron fod hyd at bron i filiwn o weithiau, ac mae'n cynnwys pum rhan: system oleuo, system ddelweddu, system gwactod, system gofnodi a system cyflenwad pŵer. Os cânt eu hisrannu, y prif rannau yw lens electronig a system recordio delweddu, sy'n cynnwys gwn electron, cyddwysydd, ystafell sampl, lens gwrthrychol, drych diffreithiant, drych canolraddol, drych taflunio, sgrin fflwroleuol a chamera wedi'i osod mewn gwactod.
Microsgop electron yw microsgop sy'n defnyddio electronau i ddangos y tu mewn neu arwyneb gwrthrych. Mae tonfedd electronau cyflym yn fyrrach na golau gweladwy (deuoliaeth gronynnau tonnau), ac mae cydraniad microsgop wedi'i gyfyngu gan y donfedd a ddefnyddir, felly mae datrysiad damcaniaethol microsgop electron (tua 0.1 nm). ) yn llawer uwch na microsgop optegol (tua 200 nm).
Mae trawsyrru electronmicrosgop (TEM), y cyfeirir ato fel microsgop electron trawsyrru [1], yn taflunio'r pelydr electron cyflym a chryno ar sampl denau iawn, ac mae'r electronau'n gwrthdaro â'r atomau yn y sampl i newid cyfeiriad, gan gynhyrchu gwasgariad onglog solet. Mae'r ongl wasgaru yn gysylltiedig â dwysedd a thrwch y sampl, felly gellir ffurfio delweddau â disgleirdeb gwahanol, a bydd y delweddau'n cael eu harddangos ar ddyfeisiau delweddu (fel sgriniau fflwroleuol, ffilmiau a chydrannau cyplu ffotosensitif) ar ôl ymhelaethu a chanolbwyntio.
Oherwydd bod tonfedd electronau de Broglie yn fyr iawn, mae datrysiad microsgop electron trawsyrru yn llawer uwch na datrysiad microsgop optegol, a all gyrraedd {{0}}.1 ~ 0.2 nm ac mae'r chwyddhad yn ddegau o filoedd ~ miliynau o weithiau. Felly, gellir defnyddio'r microsgop electron trawsyrru i arsylwi ar strwythur mân y sampl, hyd yn oed strwythur dim ond un golofn o atomau, sydd ddegau o filoedd o weithiau'n llai na'r strwythur lleiaf y gellir ei arsylwi gan y microsgop optegol. Mae TEM yn ddull dadansoddol pwysig mewn llawer o feysydd gwyddonol sy'n ymwneud â ffiseg a bioleg, megis ymchwil canser, firoleg, gwyddor deunyddiau, nanotechnoleg, ymchwil lled-ddargludyddion ac ati.
Pan fo'r chwyddhad yn isel, mae cyferbyniad delweddu TEM yn cael ei achosi'n bennaf gan y gwahanol amsugno electronau a achosir gan wahanol drwch a chyfansoddiad deunyddiau. Fodd bynnag, pan fydd y chwyddiad yn uchel, bydd yr amrywiad cymhleth yn achosi disgleirdeb gwahanol i'r ddelwedd, felly mae angen gwybodaeth broffesiynol i ddadansoddi'r ddelwedd a gafwyd. Trwy ddefnyddio gwahanol ddulliau o TEM, gall y samplau gael eu delweddu gan y nodweddion cemegol, cyfeiriadedd grisial, strwythur electronig, shifft cyfnod electronau a achosir gan y samplau a'r amsugno arferol o electronau.
