Gwahaniaethau rhwng microsgopau electron a microsgopau metallograffig
Egwyddorion Sganio Microsgopeg Electron
Mae Microsgop Sganio Electron (SEM), wedi'i dalfyrru fel SEM, yn system gymhleth; mae'n cyddwyso technoleg optegol electron, technoleg gwactod, strwythur mecanyddol cain a thechnoleg rheoli cyfrifiaduron modern. Mae'r microsgop electron sganio yn casglu'r electronau a allyrrir gan y gwn electron i mewn i belydr electron mân trwy lens electromagnetig aml-gam o dan weithred foltedd uchel carlam. Sganiwch wyneb y sampl i ysgogi gwybodaeth amrywiol, a dadansoddi wyneb y sampl trwy dderbyn, ymhelaethu ac arddangos y wybodaeth. Mae rhyngweithio'r electronau digwyddiad gyda'r sampl yn cynhyrchu'r mathau o wybodaeth a ddangosir yn Ffigur 1. Mae dosbarthiad dwyster dau ddimensiwn y wybodaeth hyn yn newid gyda nodweddion arwyneb y sampl (mae'r nodweddion hyn yn cynnwys morffoleg wyneb, cyfansoddiad, cyfeiriadedd grisial, eiddo electromagnetig , ac ati), ac mae'r wybodaeth a gesglir gan wahanol ganfodyddion yn cael ei throsi'n ddilyniannol ac yn gymesur Anfonir signal fideo i diwb llun wedi'i sganio'n gydamserol ac mae ei ddisgleirdeb yn cael ei fodiwleiddio i gael delwedd sgan sy'n adlewyrchu cyflwr wyneb y sampl. Os caiff y signal a dderbynnir gan y synhwyrydd ei ddigideiddio a'i drawsnewid yn signal digidol, gellir ei brosesu a'i storio ymhellach gan gyfrifiadur. Defnyddir y microsgop electron sganio yn bennaf i arsylwi samplau trwchus gyda gwahaniaeth uchder mawr a garwedd, felly amlygir dyfnder yr effaith maes yn y dyluniad, ac fe'i defnyddir yn gyffredinol i ddadansoddi holltau ac arwynebau naturiol nad ydynt wedi'u prosesu'n artiffisial.
Microsgop Electron a Microsgop Metelograffig
1. Ffynonellau golau gwahanol: mae microsgopau metallograffig yn defnyddio golau gweladwy fel y ffynhonnell golau, ac mae microsgopau electron sganio yn defnyddio trawstiau electron fel ffynhonnell golau ar gyfer delweddu.
2. Mae'r egwyddor yn wahanol: mae'r microsgop metallograffig yn defnyddio'r egwyddor o ddelweddu optegol geometrig ar gyfer delweddu, ac mae'r microsgop electron sganio yn defnyddio trawstiau electron ynni uchel i beledu arwyneb y sampl i ysgogi gwahanol signalau ffisegol ar yr wyneb sampl, ac yna defnyddio gwahanol synwyryddion signal i dderbyn signalau corfforol a'u trosi'n wybodaeth delweddau.
3. Mae'r cydraniad yn wahanol: oherwydd ymyrraeth a diffreithiant golau, dim ond i 0 y gellir cyfyngu cydraniad y microsgop metallograffig i 0.2-0.5um. Oherwydd bod y microsgop electron sganio yn defnyddio trawstiau electron fel y ffynhonnell golau, gall ei gydraniad gyrraedd rhwng 1-3nm. Felly, mae arsylwi meinwe'r microsgop metallograffig yn perthyn i ddadansoddiad graddfa micron, ac mae arsylwi meinwe microsgop electron sganio yn perthyn i ddadansoddiad nano-raddfa.
4. Mae dyfnder y cae yn wahanol: mae dyfnder maes microsgop metallograffig cyffredinol rhwng 2-3um, felly mae ganddo ofynion hynod o uchel o ran llyfnder wyneb y sampl, felly mae'r broses paratoi sampl yn gymharol cymhleth. Mae gan y microsgop electron sganio ddyfnder mawr o faes, maes golygfa fawr, a delweddu tri dimensiwn, a all arsylwi'n uniongyrchol ar strwythur dirwy arwyneb anwastad amrywiol samplau.
