Nodweddion Sganio Probe Microsgopau
Microsgopeg stiliwr sganio yw'r trydydd microsgop ar gyfer arsylwi strwythur mater ar y raddfa atomig ar ôl microsgopeg ïon maes a microsgopeg electronau trawsyrru cydraniad uchel. Gan gymryd Microsgop Sganio Twnelu (STM) fel enghraifft, ei gydraniad ochrol yw 0.1~0.2nm, a'i gydraniad dyfnder fertigol yw 0.01nm. Gall datrysiad o'r fath arsylwi'n glir ar atomau sengl neu foleciwlau wedi'u dosbarthu ar wyneb y sampl. Ar yr un pryd, gall microsgop y stiliwr sganio hefyd gynnal ymchwil arsylwi mewn amgylcheddau aer, nwyon eraill neu hylif.
Mae gan ficrosgopau chwiliwr sganio nodweddion cydraniad atomig, trafnidiaeth atomig, a nano-microbrosesu. Fodd bynnag, oherwydd gwahanol egwyddorion gweithio microsgopau sganio amrywiol yn fanwl, mae'r wybodaeth ar wyneb y sampl a adlewyrchir gan y canlyniadau a gafwyd ganddynt yn wahanol iawn. Mae microsgopeg twnelu sganio yn mesur gwybodaeth ddosbarthu gorsafoedd electronau ar wyneb y sampl, sydd â chydraniad lefel atomig ond yn dal yn methu â chael gwir strwythur y sampl. Mae'r microsgop atomig yn canfod y wybodaeth ryngweithio rhwng atomau, felly gellir cael gwybodaeth trefniant y dosbarthiad atomig ar wyneb y sampl, hynny yw, gwir strwythur y sampl. Ond ar y llaw arall, ni all y microsgop grym atomig fesur y wybodaeth cyflwr electronig y gellir ei gymharu â'r theori, felly mae gan y ddau eu manteision a'u hanfanteision eu hunain.
