Sut i ddewis microsgop sy'n addas i'ch anghenion?
Ym maes ymchwil wyddonol a phrofion dadansoddol, yn ddiamau, mae microsgopau yn offer anhepgor ac fe'u gelwir yn "llygad gwyddoniaeth". Mae'n galluogi bodau dynol i archwilio'r byd microsgopig na ellir ei wahaniaethu gan y llygad noeth, gan ddarparu cymorth technolegol allweddol ar gyfer meysydd fel ymchwil deunyddiau, biofeddygaeth, a phrofion diwydiannol. Yn wyneb gwahanol anghenion ymchwil, mae sut i ddewis y microsgop priodol wedi dod yn bryder i lawer o ymchwilwyr.
Mae'r microsgop hwn yn defnyddio pelydr electron gwasgedd uchel fel ffynhonnell golau ac mae'n canolbwyntio delweddu trwy lens electromagnetig. Gall ei chwyddhad gyrraedd miliynau o weithiau, a gall ei benderfyniad hyd yn oed gyrraedd lefel yr angstroms (Å) (1 Å yn hafal i 0.1 nanometr), sy'n ddigon i arsylwi nodweddion strwythurol lefel atomig.
Mae egwyddor weithredol microsgopeg electron trosglwyddo yn debyg i egwyddor microsgopeg optegol, ond mae'n defnyddio trawstiau electron yn lle golau gweladwy a lensys electromagnetig yn lle lensys optegol. Oherwydd y ffaith bod tonnau electronig yn llawer llai na thonfedd golau gweladwy, yn ôl theori terfyn diffreithiant Abbe, mae eu datrysiad wedi'i wella'n fawr, gan gyflawni archwiliad eithaf y byd microsgopig.
Mae technoleg microsgopeg electron trosglwyddo modern wedi datblygu'n gyflym, gan arwain at wahanol fodelau datblygedig: mae sganio microsgopeg electron trawsyrru (STEM) yn cyfuno manteision dulliau sganio a thrawsyriant; Gellir defnyddio microsgopeg electronau trawsyrru cyflym iawn (UTEM) i astudio prosesau deinamig tra chyflym; Mae microsgopeg electron trawsyrru wedi'i rewi (FTEM) yn arbennig o addas ar gyfer astudio biomoleciwlau; Gall microsgopeg trawsyrru electron yn y fan a'r lle (TEM) arsylwi-newidiadau amser real mewn samplau o dan ysgogiadau allanol; Mae microsgopeg trosglwyddo electron cywiro aberration sfferig (CTEM) yn gwella datrysiad ymhellach trwy gywiro aberrations lens.
Dylid nodi bod gan ficrosgopeg electron trawsyrru, fel offeryn manwl uchel, nodweddion cost uchel, gweithrediad cymhleth, a gofynion paratoi sampl llym. Rhaid paratoi'r sampl yn dafelli tenau iawn (llai na 100 nanometr fel arfer) i ganiatáu treiddiad pelydr electron.
microsgop electron sganio
Os yw'r raddfa ymchwil yn yr ystod o ddegau o nanometrau i filimetrau ac yn canolbwyntio'n bennaf ar nodweddion morffoleg wyneb y sampl, mae sganio microsgopeg electron (SEM) yn ddewis mwy addas. Mae gan y microsgop hwn ystod chwyddo eang (fel arfer o 10x i 300000 o weithiau), a all ddiwallu'r rhan fwyaf o'r anghenion ar gyfer arsylwi morffoleg, dadansoddiad elfennol, dadansoddiad microstrwythur, ac ati.
Egwyddor weithredol sganio microsgopeg electron yw sganio arwyneb y sampl fesul pwynt gyda thrawst electron, ac yna canfod signalau fel electronau eilaidd ac electronau ôl-wasgaredig a gynhyrchir gan y sampl i ffurfio delwedd.
