Egwyddor weithredol microsgop electron trawsyrru
Gall microsgop electron trawsyrru (Transmission Electron Microscope, TEM yn fyr) weld y microstrwythurau sy'n llai na {{0}}.2um na ellir eu gweld yn glir o dan y microsgop optegol. Gelwir y strwythurau hyn yn is-strwythurau neu'n uwch-strwythurau. Er mwyn gweld y strwythurau hyn yn glir, rhaid dewis ffynhonnell golau gyda thonfedd fyrrach i gynyddu cydraniad y microsgop. Ym 1932, dyfeisiodd Ruska ficrosgop electron trawsyrru gyda thrawst electron fel ffynhonnell golau. Mae tonfedd y trawst electron yn llawer byrrach na golau gweladwy a golau uwchfioled, ac mae tonfedd y pelydr electron mewn cyfrannedd gwrthdro â gwreiddyn sgwâr foltedd y pelydr electron a allyrrir, hynny yw, yr uchaf yw'r foltedd. y byrraf yw'r donfedd. Ar hyn o bryd, gall datrysiad TEM gyrraedd 0.2 nm.
Egwyddor weithredol y microsgop electron trawsyrru yw bod y trawst electron a allyrrir gan y gwn electron yn mynd trwy'r cyddwysydd ar hyd echelin optegol y corff drych yn y sianel gwactod, ac yn cael ei gyddwyso i fan golau miniog, llachar ac unffurf gan y cyddwysydd. , ac yn goleuo'r sampl yn y siambr sampl. Ar; mae'r trawst electron ar ôl pasio trwy'r sampl yn cario'r wybodaeth strwythurol y tu mewn i'r sampl, mae swm yr electronau sy'n pasio trwy ran drwchus y sampl yn fach, ac mae swm yr electronau sy'n mynd trwy'r rhan denau yn fwy; ar ôl chwyddo ffocws a chynradd y lens gwrthrychol, y trawst electron Mae'r lens ganolraddol sy'n mynd i mewn i'r cam isaf a'r drychau taflunio cyntaf a'r ail yn cynnal delweddu chwyddo cynhwysfawr, ac yn olaf mae'r ddelwedd electronig chwyddedig yn cael ei daflunio ar y sgrin fflwroleuol yn yr ystafell arsylwi ; mae'r sgrin fflwroleuol yn trosi'r ddelwedd electronig yn ddelwedd golau gweladwy i ddefnyddwyr ei arsylwi. Bydd yr adran hon yn cyflwyno prif strwythur ac egwyddor pob system yn y drefn honno.
Egwyddorion Delweddu Microsgop Electron Trawsyrru
Gellir rhannu egwyddor delweddu microsgop electron trawsyrru yn dair sefyllfa:
1. Delwedd amsugno: Pan fydd electronau'n taro sampl â màs a dwysedd uchel, mae'r prif effaith ffurfio cyfnod yn wasgaru. Pan fo màs a thrwch y sampl yn fwy, mae ongl gwasgariad electronau yn fwy, ac mae llai o electronau'n mynd drwodd, ac mae disgleirdeb y ddelwedd yn dywyllach. Roedd microsgopau electron trosglwyddo cynnar yn seiliedig ar yr egwyddor hon.
2. Delwedd diffreithiant: Ar ôl i'r pelydr electron gael ei ddiffreithio gan y sampl, mae'r dosbarthiad osgled tonnau diffreithiedig mewn gwahanol safleoedd o'r sampl yn cyfateb i wahanol bŵer diffreithiant pob rhan o'r grisial yn y sampl. Nid yw dosbarthiad osgled tonnau diffracted yn unffurf, gan adlewyrchu dosbarthiad diffygion grisial.
3. Delwedd cam: Pan fydd y sampl yn deneuach na 100Å, gall electronau basio trwy'r sampl, a gellir anwybyddu'r newid osgled tonnau, a daw'r delweddu o'r newid cyfnod.
Defnyddio Microsgopeg Electron Trawsyrru
Defnyddir microsgopeg electron trosglwyddo yn eang mewn gwyddor deunyddiau a bioleg. Gan fod electronau'n cael eu gwasgaru neu eu hamsugno'n hawdd gan wrthrychau, mae'r treiddiad yn isel, a bydd dwysedd a thrwch y sampl yn effeithio ar ansawdd delweddu terfynol. Rhaid paratoi adrannau tra tenau, fel arfer 50-100 nm. Felly, mae angen prosesu'r sampl ar gyfer arsylwi trwy ficrosgop electron trawsyrru yn denau iawn. Y dulliau a ddefnyddir yn gyffredin yw: toriad tra-denau, toriad tra-denau wedi'i rewi, ysgythriad rhewi, torri asgwrn rhewi ac ati. Ar gyfer samplau hylif, fe'i gwelir fel arfer trwy hongian ar grid copr sydd wedi'i drin ymlaen llaw.
