Cyflwyno Microsgop Grym Atomig Awtomataidd Fel Erioed Erioed
Mae system microsgop grym atomig awtomatig NX{0}DM a lansiwyd gan Park Systems wedi'i dylunio'n arbennig ar gyfer cyfuchlin bargod, delweddu wal ochr cydraniad uchel a mesur ongl gritigol. Gyda'r system sganio annibynnol unigryw XY-echel ac echel Z a sganiwr echel Z gogwyddo, mae NX{5}}DM yn llwyddo i oresgyn yr heriau a achosir gan bennau arferol a fflachio mewn dadansoddiad wal ochr cywir. Yn y modd True Non-Contact™, mae'r NX-3DM yn galluogi mesur annistrywiol o ffotoresyddion meddal gydag awgrymiadau cymhareb agwedd uchel.
cywirdeb digynsail
Wrth i lled-ddargludyddion fynd yn llai, mae angen i ddyluniadau fod ar y raddfa nano, ond ni all offer mesur traddodiadol ddarparu'r manwl gywirdeb sy'n ofynnol ar gyfer dylunio a gweithgynhyrchu nanoraddfa. Gan wynebu'r her hon o ran mesur y diwydiant, mae Park AFM wedi gwneud llawer o ddatblygiadau technolegol, megis dileu crosstalk, a all gyflawni delweddu heb arteffactau ac nad ydynt yn ddinistriol; mae'r AFM 3D newydd yn gwneud delweddu cydraniad uchel o nodweddion wal ochr a thandoriad yn bosibl.
trwybwn digynsail
Oherwydd cyfyngiad trwybwn isel, ni ellir defnyddio dyluniad nanoscale wrth reoli ansawdd cynhyrchu, ond mae microsgopeg grym atomig yn ei gwneud hi'n bosibl. Gyda'r datrysiad trwybwn uchel a ryddhawyd gan Park Systems, mae microsgopeg grym atomig hefyd wedi mynd i faes gweithgynhyrchu ar-lein awtomataidd. Mae hyn yn cynnwys nodwedd amnewid stiliwr magnetig arloesol gyda chyfradd llwyddiant o 99 y cant, sy'n uwch na thechnoleg gwactod confensiynol. Yn ogystal, mae optimeiddio prosesau a thrwybwn yn gofyn am gydweithrediad gweithredol cwsmeriaid i ddarparu data crai cyflawn.
Cost-effeithiolrwydd digynsail
Mae angen paru cywirdeb a thrwybwn uchel mesuriadau nanoraddfa ag atebion cost-effeithiol i raddfa o ymchwil i gymwysiadau cynhyrchu byd go iawn. Yn wyneb yr her hon o ran costau, mae Park Systems wedi dod â datrysiad microsgop grym atomig o raddfa ddiwydiannol i wneud mesuriadau awtomataidd yn gyflymach ac yn fwy effeithlon, a gwneud chwilwyr yn fwy gwydn! Rydym wedi rhoi’r gorau i’r microsgop electron sganio araf a drud ac wedi newid i’r microsgop grym atomig 3D effeithlon, awtomataidd a fforddiadwy i leihau cost mesur gweithgynhyrchu diwydiannol ar-lein ymhellach. Heddiw, mae gweithgynhyrchwyr angen gwybodaeth 3D i nodweddu proffiliau ffosydd ac amrywiadau wal ochr i leoli diffygion mewn dyluniadau newydd yn gywir. Mae'r llwyfan modiwlaidd AFM yn galluogi amnewid caledwedd a meddalwedd cyflym, gan wneud uwchraddio'n fwy cost-effeithiol a gwneud y gorau o fesuriadau rheoli ansawdd cynhyrchu cymhleth a heriol yn barhaus. Yn ogystal, mae ein chwilwyr AFM yn para o leiaf 2 gwaith yn hirach, gan leihau cost perchnogaeth ymhellach. Mae AFMs traddodiadol yn defnyddio sganio tapio, sy'n gwneud y blaen yn fwy tueddol o draul, ond gall ein modd Gwir Ddi-gyswllt ™ amddiffyn y domen yn effeithiol ac ymestyn ei oes.
