Cymhwyso microsgop mewn weldio treiddiad dwfn o gydrannau modurol
Defnyddir weldio, fel dull pwysig o brosesu deunydd, yn eang mewn cynhyrchu diwydiannol. Gyda datblygiad parhaus technoleg weldio a gwella technoleg weldio, mae'r gofynion ar gyfer ansawdd weldio mewn amrywiol ddiwydiannau o systemau dadansoddi treiddiad hefyd yn cynyddu. Mae uwchraddio diwydiannol ar fin digwydd, ac mae canfod ansawdd weldio trwy ddadansoddwyr dyfnder weldio yn hanfodol ar gyfer uwchraddio diwydiannol y diwydiant gweithgynhyrchu mecanyddol. Mewn ymateb i'r sefyllfa hon, mae Ffatri Offer Arbrofol Optegol Shanghai Yehong wedi datblygu system arolygu ansawdd weldio ar gyfer mesur dyfnder weldio yn unol â safonau'r diwydiant, gan gynnwys HB5282-1984 dur strwythurol a dur di-staen ymwrthedd weldio spot ac archwilio ansawdd weldio seam, HB. 5276-1984 microsgop canfod treiddiad ar gyfer weldio sbot ymwrthedd aloi alwminiwm ac arolygu ansawdd weldio sêm. Mae'r microsgop dyfnder weldio wedi'i gyfarparu â thorri pwynt weldio sampl, cyn malu, caboli, unedau trin cemegol, system microsgop dyfnder treiddiad (ZOOM-660E), a system mesur delwedd planar (CF-2000C). Gall y system hon ddelweddu, golygu, mesur, allforio data, ac argraffu adroddiadau ar dreiddiad cynhyrchion weldio, gan gynnwys tocio, trosglwyddo, gorgyffwrdd, a weldio siâp T. Yn benodol, mae gwahanol gydrannau weldio megis gosodiadau a mowldiau modurol, offer archwilio modurol, synwyryddion weldio ymasiad ar gyfer cydrannau sedd modurol, gwregysau diogelwch modurol, canfod dyfnder weldio rhannau modurol ar gyfer hidlwyr modurol, ac ati Mae'r canlynol yn y torri gwirioneddol a mesur dyfnder weldio canlyniadau cynhyrchion o Ffatri Offerynnau Optegol Shanghai. O'i gymharu â chynhyrchion tebyg, mae gan y system hon nodweddion delweddu clir, cyferbyniad uchel a chywirdeb microsgopau mesur dyfnder weldio cyfrifiadurol, a gall gyflawni'r effeithiau arsylwi lliw a ffotograffiaeth mwyaf perffaith.
Mae cynnwys yr arolygiad weldio microsgop treiddiad sêm weldio yn cynnwys y deunyddiau, offer, offer ar gyfer mesur treiddiad sêm weldio trwy gydol y broses gynhyrchu o ddylunio lluniadu i gynhyrchu cynnyrch, archwilio'r broses ac ansawdd y cynnyrch gorffenedig. Rhennir y microsgop mesur treiddiad wythïen weldio yn dri cham: archwiliad cyn weldio, archwilio prosesau weldio, ac archwilio cynnyrch gorffenedig ar ôl weldio. Gellir rhannu'r dull arolygu ar gyfer dyfnder treiddiad weldio cychod pwysau yn archwiliad dinistriol a phrofion annistrywiol yn seiliedig ar a yw'n achosi difrod i'r cynnyrch.
1) Dadansoddwr dyfnder a lled Weldio ar gyfer arolygiad cyn weldio
Mae archwiliad cyn weldio yn cynnwys archwilio deunyddiau crai (fel metel sylfaen, gwialen weldio, fflwcs, ac ati) gan ddefnyddio microsgop dyfnder ac archwilio dyluniad strwythur weldio.
2) Archwilio dyfnder a lled weldio yn ystod y broses weldio
Mae hyn yn cynnwys archwilio manylebau'r broses weldio, archwilio maint y weldio, archwilio amodau gosodiadau, ac archwilio ansawdd y cynulliad strwythurol.
3) Archwilio cynhyrchion gorffenedig ar ôl weldio gan ddefnyddio microsgop mesur dyfnder cyfrifiadurol
