Nodweddion Sganio Microsgopau Archwilio
Mae microsgop stiliwr sganio yn derm cyffredinol ar gyfer amrywiol ficrosgopau stiliwr newydd (microsgop grym atomig, microsgop grym electrostatig, microsgop grym magnetig, microsgop dargludedd ïon sganio, microsgop electrocemegol sganio, ac ati) a ddatblygwyd ar sail microsgop twnelu sganio. Mae'n offeryn dadansoddi wyneb a ddatblygwyd yn rhyngwladol yn ystod y blynyddoedd diwethaf.
Microsgop chwiliwr sganio yw'r trydydd math o ficrosgop sy'n arsylwi adeileddau materol ar y raddfa atomig, yn dilyn microsgopeg ïon maes a microsgopeg electronau trawsyrru cydraniad uchel. Gan gymryd microsgop twnelu sganio (STM) fel enghraifft, ei gydraniad ochrol yw 0.1 ~ 0.2nm, a'i gydraniad dyfnder hydredol yw 0.01nm. Gall datrysiad o'r fath arsylwi'n glir ar atomau unigol neu foleciwlau wedi'u dosbarthu ar wyneb y sampl. Yn y cyfamser, gellir defnyddio microsgopau chwiliwr sganio hefyd ar gyfer arsylwi ac ymchwilio mewn amgylcheddau aer, nwyon eraill, neu hylif.
Mae gan ficrosgopau chwiliwr sganio nodweddion megis cydraniad atomig, trafnidiaeth atomig, a micro-wneuthuriad nano. Fodd bynnag, oherwydd gwahanol egwyddorion gweithio microsgopau sganio amrywiol, mae gwybodaeth arwyneb y sampl a adlewyrchir gan eu canlyniadau yn wahanol iawn. Mae'r microsgop twnelu sganio yn mesur y wybodaeth am ddosbarthiad electronau ar wyneb y sampl, gyda chydraniad lefel atomig ond yn dal i fethu â chael gwir strwythur y sampl. Mae microsgopeg atomig yn canfod y wybodaeth ryngweithio rhwng atomau, ac felly'n cael gwybodaeth am drefniant dosbarthiad atomig ar wyneb y sampl, sef gwir strwythur y sampl. Ar y llaw arall, ni all microsgopeg grym atomig fesur gwybodaeth cyflwr electronig y gellir ei gymharu â theori, felly mae gan y ddau eu cryfderau a'u gwendidau eu hunain.
