Defnyddiau a nodweddion microsgopeg trawsyrru electronauDefnyddiau a nodweddion microsgopeg electronau trawsyrru
Mae microsgop electron trawsyrru (TEM) yn ficrosgop cydraniad uchel a ddefnyddir i arsylwi strwythur mewnol sampl. Mae'n defnyddio pelydr electron i dreiddio i sampl a ffurfio delwedd dafluniedig, sydd wedyn yn cael ei dehongli a'i dadansoddi i ddatgelu microstrwythur y sampl.
1. Ffynhonnell Electron
Mae TEM yn defnyddio pelydr electron yn hytrach na pelydr golau. Mae'r gyfres microsgop electron trawsyrru Talos sydd wedi'i chyfarparu gan Jifeng Electronics MA Lab yn defnyddio gwn electron disgleirdeb hynod uchel, ac mae'r microsgop electron trawsyrru aberration sfferig HF5000 yn defnyddio gwn electron maes oer.
System 2.Vacuum
Er mwyn osgoi'r trawst electron rhag rhyngweithio â'r nwy cyn teithio drwy'r sampl, rhaid cynnal y microsgop cyfan o dan amodau gwactod uchel.
3. sampl trawsyrru
Rhaid i'r sampl fod yn dryloyw, sy'n golygu y gall y pelydr electron dreiddio iddo, rhyngweithio ag ef a ffurfio delwedd dafluniedig. Yn nodweddiadol, mae trwch y sampl yn yr ystod nanomedr i is-micron. Mae gan Quarterly ddwsinau o FIBs cyfres Helios 5 ar gyfer paratoi samplau TEM tra-denau o ansawdd uchel.
4. System Trawsyrru Electron
Mae'r pelydr electron wedi'i ffocysu trwy system drawsyrru. Mae'r lensys hyn yn debyg i'r rhai a ddefnyddir mewn microsgopau optegol, ond oherwydd bod tonfeddi electronau yn llawer byrrach na thonnau golau, mae dylunio a gweithgynhyrchu'r lensys yn fwy heriol.
5. Delwedd Awyren
Ar ôl pasio drwy'r sampl, mae'r trawst electron yn mynd i mewn i awyren delwedd. Yn yr awyren hon, mae'r wybodaeth o'r pelydr electron yn cael ei drawsnewid yn ddelwedd a'i dal gan synhwyrydd.
6. Synhwyrydd
Y synwyryddion mwyaf cyffredin yw sgriniau ffosffor, camerâu CCD (Dyfais Gypledig â Chadw) neu gamerâu CMOS (Led-ddargludydd Metel Ocsid Cyflenwol). Pan fydd pelydr electron yn rhyngweithio â sgrin ffosffor yn yr awyren ddelwedd, cynhyrchir golau gweladwy, gan arwain at ddelwedd ragamcanol o'r sampl, a ddefnyddir yn aml i ddod o hyd i'r sampl. Gan fod angen defnyddio'r sgrin ffosffor mewn amgylchedd ystafell dywyll, nad yw'n hawdd ei ddefnyddio, mae gweithgynhyrchwyr y dyddiau hyn yn gosod camera ar ochr y sgrin ffosffor, fel y gall y gweithredwr TEM arsylwi ar y monitor mewn amgylchedd agored i ddod o hyd i samplau , tilt yr echel tâp a gweithrediadau eraill, y gwelliant anamlwg hwn yw sail gwireddu gwahaniad y dyn-peiriant.
7. Ffurfio Delwedd
Wrth i'r pelydr electron fynd trwy'r sampl, mae'n rhyngweithio â'r strwythurau atomig a chrisialog o fewn y sampl, gan wasgaru ac amsugno. Yn seiliedig ar y rhyngweithiadau hyn, bydd dwyster y pelydr electron yn ffurfio delweddau ar yr awyren ddelwedd. Mae'r delweddau hyn yn ddelweddau tafluniedig dau ddimensiwn, ond mae strwythur mewnol y sampl yn aml yn dri dimensiwn, felly dylid rhoi sylw arbennig i hyn wrth ddatrys gwybodaeth am fanylion mewnol y sampl.
8. Dadansoddi a Dehongli
Trwy arsylwi a dadansoddi'r delweddau, gall ymchwilwyr ddeall y strwythur grisial, paramedrau dellt, diffygion grisial, trefniant atomig a gwybodaeth ficrostrwythurol arall y sampl. Mae gan Jifeng dîm dadansoddi deunydd proffesiynol, a all ddarparu atebion dadansoddi proses lawn ac adroddiadau dadansoddi deunydd proffesiynol i gwsmeriaid.
