Egwyddor weithredol a chymhwyso microsgop electron trawsyrru
Gall Microsgop Trawsyrru Electron (TEM yn fyr) weld microstrwythurau sy'n llai na {{0}.2um na ellir eu gweld yn glir o dan ficrosgopau optegol. Gelwir y strwythurau hyn yn is-strwythurau neu'n uwch-strwythurau. Er mwyn gweld y strwythurau hyn yn glir, mae angen dewis ffynhonnell golau gyda thonfedd fyrrach i wella datrysiad y microsgop. Ym 1932, dyfeisiodd Ruska y microsgop electron trawsyrru gyda pelydr electron fel ffynhonnell golau. Mae tonfedd y trawst electron yn llawer byrrach na golau gweladwy a golau uwchfioled, ac mae tonfedd y pelydr electron mewn cyfrannedd gwrthdro â gwreiddyn sgwâr foltedd y pelydr electron a allyrrir, hynny yw, yr uchaf yw'r foltedd Po fyrraf yw'r donfedd. Ar hyn o bryd, gall datrysiad TEM gyrraedd 0.2nm.
Egwyddor weithredol y microsgop electron trawsyrru yw bod y trawst electron a allyrrir gan y gwn electron yn mynd trwy'r lens cyddwysydd ar hyd echelin optegol y corff drych yn y sianel gwactod, ac yn ei gydgyfeirio'n griw o smotiau golau miniog, llachar ac unffurf. trwy lens y cyddwysydd, gan arbelydru'r sampl yn y siambr sampl. Uchod; ar ôl pasio trwy'r sampl, mae'r trawst electron yn cario gwybodaeth strwythurol y tu mewn i'r sampl, mae swm yr electronau sy'n pasio trwy ran drwchus y sampl yn fach, ac mae swm yr electronau sy'n mynd trwy'r rhan denau yn fwy; ar ôl yr addasiad cydgyfeirio ac ymhelaethu sylfaenol ar y lens gwrthrychol, y trawst electron Mae'r lens canolradd sy'n mynd i mewn i'r cam isaf a'r drychau taflunio cyntaf a'r ail yn perfformio delweddu chwyddo cynhwysfawr, ac yn olaf mae'r ddelwedd electronig chwyddedig yn cael ei daflunio ar y sgrin fflwroleuol yn yr ystafell arsylwi ; mae'r sgrin fflwroleuol yn trosi'r ddelwedd electronig yn ddelwedd golau gweladwy i ddefnyddwyr ei arsylwi. Bydd yr adran hon yn cyflwyno prif strwythurau ac egwyddorion pob system yn y drefn honno.
Egwyddorion Delweddu Microsgopeg Darlledu Electron
1. Delwedd amsugno: Pan fydd electronau'n taro sampl â màs a dwysedd uchel, mae'r ffurfiad prif gyfnod yn gwasgaru. Pan fo trwch màs y sampl yn fawr, mae ongl gwasgariad electronau yn fawr, ac mae llai o electronau'n mynd drwodd, felly mae disgleirdeb y ddelwedd yn dywyllach. Roedd microsgopau electron trosglwyddo cynnar yn seiliedig ar yr egwyddor hon.
2. Delwedd diffreithiant: Ar ôl i'r trawst electron gael ei ddiffreithio gan y sampl, mae dosraniad osgled y don diffraction mewn gwahanol safleoedd o'r sampl yn cyfateb i wahanol alluoedd diffreithiant pob rhan o'r grisial yn y sampl. Pan fydd diffyg grisial yn digwydd, mae gallu diffreithiant y rhan ddiffygiol yn wahanol i allu'r ardal gyfan, fel nad yw dosbarthiad osgled y tonnau diffreithiedig yn unffurf, gan adlewyrchu dosbarthiad diffygion grisial.
3. Delwedd cam: Pan fydd y sampl yn deneuach na 100Å, gall electronau basio trwy'r sampl, gellir anwybyddu newid osgled y don, a daw'r delweddu o'r newid cyfnod.
