Mae microsgopeg electron sganio a microsgopeg metallograffig "yn mynd gyda'i gilydd ond mewn gwahanol ffyrdd"
Mae microsgopau electron sganio a microsgopau metallograffig ill dau yn offerynnau optegol. Mae llawer o bobl yn hoffi defnyddio microsgop metallograffig fel microsgop electron sganio, ond mae gwahaniaethau mawr rhyngddynt. Bydd defnydd anghywir ond yn rhoi mwy o faich ar yr offer ac yn cyflymu'r defnydd o'r microsgop metallograffig.
1. Yn gyntaf oll, mae'r egwyddorion yn wahanol: mae'r microsgop metallograffig yn defnyddio'r egwyddor o ddelweddu optegol geometrig i berfformio delweddu, tra bod y microsgop electron sganio yn defnyddio gwahanol signalau ffisegol wedi'u cyffroi gan drawstiau electron â ffocws manwl wrth sganio'r wyneb sampl i fodiwleiddio delweddu. Mae wyneb y sampl yn cael ei beledu â thrawstiau electronau ynni uchel, ac mae signalau ffisegol amrywiol yn cael eu cyffroi ar wyneb y sampl. Defnyddir gwahanol synwyryddion signal i dderbyn y signalau ffisegol ac yna eu trosi'n wybodaeth delwedd.
2. Yn ail, mae'r ffynonellau golau yn wahanol: mae'r microsgop metallograffig yn defnyddio golau gweladwy fel y ffynhonnell golau ar gyfer delweddu, tra bod y microsgop electron sganio yn defnyddio trawstiau electron fel y ffynhonnell golau ar gyfer delweddu.
3. Cydraniad gwahanol: Mae microsgopau metelegol yn agored i ymyrraeth a diffreithiant golau gweladwy, a dim ond i 0 y gellir cyfyngu'r cydraniad.2-0.5um. Gan fod y microsgop electron sganio yn defnyddio trawstiau electron fel y ffynhonnell golau, gall ei gydraniad gyrraedd rhwng 1-3nm. Felly, mae'r arsylwi meinwe o dan y microsgop metallograffig yn ddadansoddiad lefel micron, tra bod yr arsylwi meinwe o dan y microsgop electron sganio yn ddadansoddiad nano-lefel. Mae'r wybodaeth sampl a geir gan y microsgop electron sganio yn gyfoethocach. .
4. Dyfnder cae gwahanol: Yn gyffredinol, mae dyfnder maes microsgop metallograffig rhwng 2-3um, felly mae ganddo ofynion uchel iawn ar gyfer llyfnder wyneb y sampl, felly mae'r broses paratoi sampl yn gymharol gymhleth. Mae dyfnder maes microsgop electron sganio gannoedd o weithiau yn fwy na microsgop metallograffig. Fodd bynnag, oherwydd cyfyngiadau ei egwyddor delweddu, rhaid i wyneb y sampl fod yn ddargludol, felly rhaid i'r wyneb sampl fod yn ddargludol.
O'i gymharu â microsgopau metallograffig, mae gan ficrosgopau electron sganio ystod chwyddo addasadwy eang, datrysiad delwedd uchel, dyfnder mawr o faes, delweddau tri dimensiwn cyfoethog, a gallant gael gwybodaeth sampl gyfoethocach. Mae eu cymwysiadau yn ddyfnach ac yn helaethach na microsgopau metallograffig.
